ASTM E1161-03

Standard Test Method for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

NORMA vydána dne 10.6.2003

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1666.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1161-03
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.6.2003
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1161-03 :

Keywords:
electronic devices, nondestructive testing, radiographic, radioscopy, semiconductors, X-Ray