ASTM E1127-91(1997)

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

NORMA vydána dne 10.9.1997

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1595.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1127-91(1997)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.9.1997
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1127-91(1997) :

Keywords:
Angle lapping, Argon atmospheres, Ball cratering, Crater edge profiling, Depth profiling, Gases, Ion sputtering, Noble gas ions, Nondestructive evaluation (NDE), Polishing properties, Spectroscopy-auger electron (AES), Sputter depth profiling data, Surface analysis-spectrochemical analysis, Xenon, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)