ASTM E1127-24

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

NORMA vydána dne 1.10.2024

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1499.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1127-24
Datum vydání normy: 1.10.2024
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1127-24 :

Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films,