NORMSERVIS s.r.o.

ASTM E1127-08(2015)

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy (Withdrawn 2024)

NORMA vydána dne 1.6.2015

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1917.80 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1917.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1127-08(2015)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2015
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1127-08(2015) :

Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films,, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)