NORMSERVIS s.r.o.

ASTM E1127-03

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

NORMA vydána dne 10.5.2003

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1782.30 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1782.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1127-03
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.5.2003
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1127-03 :

Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)