E DIN EN 60749-44:2014-08

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.

NORMA vydána dne 1.8.2014

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (2454.90 CZK)

Anglicky a německy -

Tištěné (2967.40 CZK)

Anglicky a německy -

CD-ROM (2492.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN EN 60749-44:2014-08
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.8.2014
Počet stran: 33
Přibližná hmotnost: 99 g (0.22 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN EN 60749-44:2014-08 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen.