Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plan.
NORMA vydána dne 1.10.2013
Označení normy: E DIN EN 60749-43:2013-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.10.2013
Počet stran: 63
Přibližná hmotnost: 189 g (0.42 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden zur Planung der Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen.