E DIN EN 60749-28:2012-07

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Direct contact charged device model (DC-CDM).

NORMA vydána dne 1.7.2012

Anglicky a německy -
Elektronické PDF (2593.30 CZK)

Anglicky a německy -

Tištěné (3136.20 CZK)

Anglicky a německy -

CD-ROM (2630.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: E DIN EN 60749-28:2012-07
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.7.2012
Počet stran: 46
Přibližná hmotnost: 138 g (0.30 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy E DIN EN 60749-28:2012-07 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Direct Contact Charged Device Model (DC-CDM).