DIN EN 62417:2010-12

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).

NORMA vydána dne 1.12.2010

Německy -
PDF - okamžité stažení (1492.20 CZK)

Německy -

Tištěné (1800.80 CZK)

Německy -

CD-ROM (1529.80 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 62417:2010-12
Publication date standards: 1.12.2010
The number of pages: 9
Approximate weight : 27 g (0.06 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 62417:2010-12 :

Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).