DIN EN 62374:2008-02

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.

NORMA vydána dne 1.2.2008

Německy -
PDF - okamžité stažení (2500.10 CZK)

Německy -

Tištěné (3022.10 CZK)

Německy -

CD-ROM (2537.90 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 62374:2008-02
Publication date standards: 1.2.2008
The number of pages: 24
Approximate weight : 72 g (0.16 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 62374:2008-02 :

Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.