DIN EN 62374-1:2011-06

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers.

NORMA vydána dne 1.6.2011

Německy -
PDF - okamžité stažení (2323.80 CZK)

Německy -

Tištěné (2809.10 CZK)

Německy -

CD-ROM (2361.50 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 62374-1:2011-06
Publication date standards: 1.6.2011
The number of pages: 18
Approximate weight : 54 g (0.12 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 62374-1:2011-06 :

Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen.