DIN EN 62373:2007-01

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

NORMA vydána dne 1.1.2007

Německy -
PDF - okamžité stažení (1653.20 CZK)

Německy -

Tištěné (2004.90 CZK)

Německy -

CD-ROM (1690.80 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 62373:2007-01
Publication date standards: 1.1.2007
The number of pages: 14
Approximate weight : 42 g (0.09 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 62373:2007-01 :

Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).