DIN EN 62047-3:2007-02

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile-testing.

NORMA vydána dne 1.2.2007

Německy -
PDF - okamžité stažení (1323.80 CZK)

Německy -

Tištěné (1597.30 CZK)

Německy -

CD-ROM (1361.40 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 62047-3:2007-02
Publication date standards: 1.2.2007
The number of pages: 9
Approximate weight : 27 g (0.06 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 62047-3:2007-02 :

Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 3: Dünnschicht-Standardmikroprobe für die Prüfung der Zugbeanspruchung.