DIN EN 62047-13:2012-10

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures.

NORMA vydána dne 1.10.2012

Německy -
PDF - okamžité stažení (2315.00 CZK)

Německy -

Tištěné (2798.40 CZK)

Německy -

CD-ROM (2352.50 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 62047-13:2012-10
Publication date standards: 1.10.2012
The number of pages: 17
Approximate weight : 51 g (0.11 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 62047-13:2012-10 :

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 13: Biege- und Scherprüfverfahren zur Messung der Haftfestigkeit bei MEMS-Strukturen.