Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking.
NORMA vydána dne 1.4.2003
Označení normy: DIN EN 60749-9:2003-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.4.2003
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 9: Beständigkeit der Kennzeichnung.