DIN EN 60749-30:2011-12

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.

NORMA vydána dne 1.12.2011

Německy -
PDF - okamžité stažení (1969.90 CZK)

Německy -

Tištěné (2381.10 CZK)

Německy -

CD-ROM (2006.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-30:2011-12
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.12.2011
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-30:2011-12 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen.