DIN EN 60749-25:2004-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling.

NORMA vydána dne 1.4.2004

Německy -
PDF - okamžité stažení (1798.90 CZK)

Německy -

Tištěné (2170.80 CZK)

Německy -

CD-ROM (1836.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-25:2004-04
Datum vydání normy: 1.4.2004
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-25:2004-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel.