DIN EN 60749-23:2011-07

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.

NORMA vydána dne 1.7.2011

Německy -
PDF - okamžité stažení (1802.20 CZK)

Německy -

Tištěné (2174.70 CZK)

Německy -

CD-ROM (1839.30 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 60749-23:2011-07
Publication date standards: 1.7.2011
The number of pages: 11
Approximate weight : 33 g (0.07 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749-23:2011-07 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.