Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices
NORMA vydána dne 1.1.2011
Označení normy: ASTM F1893-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.2011
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
burnout, failure, high dose-rate, integrated circuits, ionizing radiation, latchup, microcircuits, semiconductor devices, survivability, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)