ASTM E986-04(2010)

Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization

NORMA vydána dne 1.4.2010

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1504.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E986-04(2010)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.4.2010
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E986-04(2010) :

Keywords:
electron beam size, E766, graphite fiber, magnification, NIST-SRM 2069B, resolution, SEM, SEM performance, spot size, waveform, Electron microscopy, Scanning electron microscope (SEM), ICS Number Code 31.120 (Electronic display devices), 37.020 (Optical equipment)