Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
NORMA vydána dne 1.12.2011
Označení normy: ASTM E431-96(2011)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.12.2011
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
electronic devices, nondestructive testing, radiographs, radiography, reference illustrations, semiconductors, x-ray, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)