Standard Test Method for Determining the Effective Elastic Parameter for X-Ray Diffraction Measurements of Residual Stress (Includes all amendments And changes 2/27/2015).
NORMA vydána dne 1.6.2009
Označení normy: ASTM E1426-98(2009)e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2009
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
elastic parameter, residual stress, x-ray diffraction, Crystal lattice structure, Effective elastic parameter (Eeff), Macroscopic analysis, Polycrystalline materials, Residual stress, Stress--metallic materials, X-ray diffraction analysis, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)