Norma DIN EN 62418:2010-12 1.12.2010 náhled

DIN EN 62418:2010-12

Semiconductor devices - Metallization stress void test.

Automaticky přeložený název:

Polovodičové součástky - Zkouška poruch pokovení způsobených pnutím.



NORMA vydána dne 1.12.2010


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena2 343.70 bez DPH
2 343.70

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 62418:2010-12
Datum vydání normy: 1.12.2010
Kód zboží: NS-239836
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 62418:2010-12 :

Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration.

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.