Norma DIN EN 62374:2008-02 1.2.2008 náhled

DIN EN 62374:2008-02

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.

Automaticky přeložený název:

Polovodičové součástky - Zkouška časově závislého průrazu dielektrika hradel..



NORMA vydána dne 1.2.2008


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena2 514.10 bez DPH
2 514.10

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 62374:2008-02
Datum vydání normy: 1.2.2008
Kód zboží: NS-239814
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Kategorie - podobné normy:

Polovodičová zařízení obecně

Anotace textu normy DIN EN 62374:2008-02 :

Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.

Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:

Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.