Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Zkouška časově závislého průrazu dielektrika hradel..
NORMA vydána dne 1.2.2008
Označení normy: DIN EN 62374:2008-02
Datum vydání normy: 1.2.2008
Kód zboží: NS-239814
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.4.2010
1.10.2009
1.1.2012
1.12.2003
1.7.2011
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 25.03.2024 (Počet položek: 2 885 931)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.