DIN EN 62373:2007-01

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

Automaticky přeložený název:

Zkouška stability tranzistorů MOSFET při namáhání napětím a teplotou..

NORMA vydána dne 1.1.2007

Jazyk
Provedení	PDF - okamžité stažení - 1 664.70 Kč Tištěné - 2 018.90 Kč CD-ROM - 1 702.60 Kč
Dostupnost	SKLADEM
Cena	1 664.70 Kč bez DPH
1 664.70 Kč

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 62373:2007-01
Datum vydání normy: 1.1.2007
Kód zboží: NS-239812
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Kategorie - podobné normy:

Tranzistory

Anotace textu normy DIN EN 62373:2007-01 :

Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).

1.7.1998

1.12.1997

1.3.2007

1.12.2010

1.12.2010

1.11.2000

Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:

Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.