E DIN EN 60749-28:20..
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN EN 62047-3:2007-02
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile-testing.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 3: Tenkovrstvové normalizované zkušební kusy pro zkoušky v tahu..
NORMA vydána dne 1.2.2007
Informace o normě:
Označení normy: DIN EN 62047-3:2007-02
Datum vydání normy: 1.2.2007
Kód zboží: NS-239569
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Anotace textu normy DIN EN 62047-3:2007-02 :
Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 3: Dünnschicht-Standardmikroprobe für die Prüfung der Zugbeanspruchung.
Podobné normy:
1.12.2003
1.7.2011
1.9.2004
1.4.2004
1.4.2013
NEPLATNÁ
1.7.2012
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
