Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 38: Metoda zkoušení četnosti občasných chyb polovodičových součástek s pamětí..
NORMA vydána dne 1.10.2008
Označení normy: DIN EN 60749-38:2008-10
Datum vydání normy: 1.10.2008
Kód zboží: NS-237832
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher.
NEPLATNÁ
1.7.2012
1.1.2012
NEPLATNÁ
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.12.2011
1.12.2003
1.1.2011
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 15.05.2024 (Počet položek: 2 900 316)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.